SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪
可实现微小区域和曲面的反射率测量。
可直接测量未经处理的透明薄板的反射率，并能几乎不受底面反射的影响；可快速高精度测量曲面和平面的反射率。
采用了特殊结构的半透镜，能高效地收集被测试样的反射光，并高效地导入分光光度计，可快速地完成低反射率样品的测量。
采用了特殊的光学结构，有效地避免了底面反射的影响，可直接测量未经处理的透明薄板的反射率。
(使用20倍物镜时，可测最小透明薄板厚度可达0.3mm）
采用了特殊卤素灯和*创的光学设计，其有效光量大，获取数据快，重复精度高。
测量点小(典型值为φ50μm)，可直接测曲面，以及膜层的分布特性。
结构紧凑，体积小，不占空间。
可用Microsoft® Excel®文件格式保存测量数据。
可在同一窗口内，同时显示多个样品的测量结果(曲线)，
方便数据的对比分析。
采用峰值跟踪技术，提高了反射率的重复测量精度
技术指标
| 型号 | SGRM-200N |
| 测定波长范围 | 380 〜 1050nm |
| 样品侧N.A | 0.22(使用10倍物镜时)
0.44(使用20倍物镜时) |
| 测量光斑尺寸 | 约φ25μm（使用10倍物镜时） |
| 样品的曲率半径 | -2mm～-∞,+2mm～∞ |
| 再现性精度 | ±0.2％ (380 〜 450nm)
±0.02％ (451 〜 950nm)
±0.2％ (951 〜 1050nm) |
| 显示分辨率 | 1nm |
| 测量时间 | 数秒（受选定的采样时间影响） |
| 外形尺寸(本体） | 270(W)×465(D)×615(H)mm (不含突出部） |
| 工作温度范围 | 18 〜 28℃ |
| 工作湿度范围 | 60%以下（无结露现象） |
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| 报价订货表 | CART |
测试结果显示例
外形图 （单位：mm）
SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪
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